X熒光全元素檢測分析光譜儀產(chǎn)品介紹

X熒光全元素檢測分析光譜儀屬于*的分析檢測儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算（計(jì)算機(jī)）一體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光全元素檢測分析光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光全元素檢測分析光譜儀。

EDX 3600K X熒光全元素檢測分析光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學(xué)會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術(shù)達(dá)到*水平。

X熒光全元素檢測分析光譜儀性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達(dá)到139eV，各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于國家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計(jì)，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì)，保證測試時(shí)達(dá)到10Pa以下，使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，其線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果，
設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業(yè)軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。

5. *的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

6. 強(qiáng)度校正法
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. *的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護(hù)功能
三重安全防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，沒有樣品時(shí)儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護(hù)測試壁；配送測試防護(hù)安全罩。

9. 安全警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時(shí)綠色指示燈亮，測試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

X熒光全元素檢測分析光譜儀配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強(qiáng)器SNE
超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)
可自動(dòng)開啟的測試蓋
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
*的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

X熒光全元素檢測分析光譜儀技術(shù)參數(shù)

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時(shí)間：10秒以上
檢測對象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達(dá)5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計(jì)數(shù)率
測試臺：360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式
保護(hù)系統(tǒng)：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開時(shí)測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設(shè)計(jì)，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)
數(shù)字多道技術(shù)：計(jì)數(shù)率>50kcps，有效計(jì)數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

X熒光全元素檢測分析光譜儀軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內(nèi)核，采用FP和EC軟件組合的方法，應(yīng)用面更加廣泛。

 
X熒光全元素檢測分析光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備，主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。